24.10.2019

Chemical analysis on nanoscale using soft X-ray scanning microscopes


Akademickie Centrum Materiałów i Nanotechnologii AGH zaprasza na seminarium, które odbędzie się 24 października 2019 r. o godz. 14.00.

Referat pod tytułem „Chemical analysis on nanoscale using soft X-ray scanning microscopes” wygłosi dr Tolek Tyliszczak (Advanced Light Source, Lawrence Berkeley National Laboratory, USA).

Miejsce: ACMiN AGH (ul. Kawiory 30, bud. D-16, sala seminaryjna 1.02A)

Streszczenie (plik pdf)