16.05.2019

Mikroskopia Elektronowa SEM, FIB, TEM najnowsze trendy i rozwiązania


Akademickie Centrum Materiałów i Nanotechnologii AGH zaprasza na seminarium naukowe pt. „Mikroskopia Elektronowa SEM, FIB, TEM najnowsze trendy i rozwiązania”, które odbędzie się 16 maja 2019 r. o godz. 8.30 w sali audytoryjnej ACMiN AGH (ul. Kawiory 30, bud. D-16).

Kontakt: Daniel Wojnarski (tel. 695 300 105, e-mail: dw@labsoft.pl)

Program

Abstrakty