16.01.2020

A new view on the origin of material properties: Time-of-flight momentum microscopy


Akademickie Centrum Materiałów i Nanotechnologii AGH zaprasza na seminarium, które odbędzie się 16 stycznia 2020 r. o godz. 14.00.

Referat pt. „A new view on the origin of material properties: Time-of-flight momentum microscopy” wygłosi prof. dr Hans Joachim Elmers (Johannes Gutenberg University Mainz, Institute for Physics, Niemcy).

Miejsce: ACMiN (ul. Kawiory 30, bud. D-16, sala audytoryjna 1.02A)

Streszczenie (plik pdf)